 |
ZX-SF1628YC
Наслаждайтесь видением
Порт c
| количество: | |
|---|---|
Высокое разрешение и однородная ясность: линза имеет высокое разрешение и равномерное ясность изображения, чтобы обеспечить четкие детали изображения.
Ультра-низкое искажение и высокий коэффициент периферической яркости: дизайн продукта уменьшает искажения и сохраняет высокое соотношение периферической яркости, чтобы обеспечить стабильную яркость на краю картинки без искажений.
Поддерживает 12-мегапиксельные и 2/3-дюймовые чипы: подходит для 12-мегапиксельных потребностей визуализации, и совместим с 2/3-дюймовыми чипами для удовлетворения потребностей приложений с высоким разрешением.
Широкий диапазон фокусных расстояний: 8-50 мм: предоставляет варианты фокусного расстояния от 8 до 50 мм, подходящие для широкого спектра потребностей в стрельбе и визуализации.
Рабочая расстояние от 0,1 метра до бесконечного расстояния: линза поддерживает рабочее расстояние от 0,1 метра до бесконечного расстояния, сохраняя превосходные оптические характеристики даже на разных расстояниях объекта.
Высокое разрешение и однородная ясность: линза имеет высокое разрешение и равномерное ясность изображения, чтобы обеспечить четкие детали изображения.
Ультра-низкое искажение и высокий коэффициент периферической яркости: дизайн продукта уменьшает искажения и сохраняет высокое соотношение периферической яркости, чтобы обеспечить стабильную яркость на краю картинки без искажений.
Поддерживает 12-мегапиксельные и 2/3-дюймовые чипы: подходит для 12-мегапиксельных потребностей визуализации, и совместим с 2/3-дюймовыми чипами для удовлетворения потребностей приложений с высоким разрешением.
Широкий диапазон фокусных расстояний: 8-50 мм: предоставляет варианты фокусного расстояния от 8 до 50 мм, подходящие для широкого спектра потребностей в стрельбе и визуализации.
Рабочая расстояние от 0,1 метра до бесконечного расстояния: линза поддерживает рабочее расстояние от 0,1 метра до бесконечного расстояния, сохраняя превосходные оптические характеристики даже на разных расстояниях объекта.
