ایل ایم آئی کے فوکل اسپیک 3 ڈی لکیری کنفوکل سینسر نے پیٹنٹ آف محور کنفوکل آپٹیکل ڈیزائن کا استعمال کیا تاکہ چیلنج کرنے والے مواد اور شکلوں کی مستقل اور کنٹیکٹ لیس پیمائش کو یقینی بنایا جاسکے ، بشمول مڑے ہوئے شیشے کی اسکرینیں ، کثیر پرت شفاف مواد (جیسے شیشے ، طبی پلاسٹک) ، اور متعدد پیچیدہ انتہائی عکاس الیکٹرانک حصے (جیسے پالش دھات)۔ لکیری کنفوکل سینسر بیک وقت 3D ، 2D اور ٹوموگرافک امیجز کو سپر بڑے فوکس کی گہرائیوں کے ساتھ تیار کرسکتا ہے۔ سینسر پیمائش کرنے والے مادے کی پیمائش کے ل suitable موزوں ہیں جو انتہائی عکاس ، آئینہ دار ، شفاف ، مڑے ہوئے ، جھکے ہوئے ، اعلی برعکس ، لچکدار ، نازک اور غیر محفوظ ہیں ، اور یہاں تک کہ واضح کوٹنگ کی موٹائی اور ہوا کے فرق کی پیمائش بھی کرسکتے ہیں۔
ke چیلنج کرنے والی سطحوں کو اسکین کریں اور ان کا پتہ لگائیں
آف محور کنفوکل آپٹیکل ڈیزائن ، جو مڑے ہوئے شیشے ، کثیر پرت شفاف مواد اور مختلف پیچیدہ انتہائی عکاس حصوں کی پیمائش کرسکتا ہے
D 3D مورفولوجی ، 3D ملٹی لیئر اسکیننگ ، 2D شدت کا ڈیٹا
ایک ہی وقت میں ، مواد کی ہر پرت کے لئے تھری ڈی مورفولوجی ، 3D ملٹی لیئر اسکیننگ اور 2D شدت کا ڈیٹا تیار کیا جاتا ہے۔
▼ تیز رفتار ، اعلی ریزولوشن
اعلی درستگی ، فیلڈ کی بڑی گہرائی ایک بڑی پیمائش کی حد کا احاطہ کرتی ہے ، معیاری/تیز رفتار ماڈل اختیاری ہیں
| پروڈکٹ کا نام | ریزولوشن | فریم ریٹ (ایف پی ایس) | سیل سائز | ڈیٹا انٹرفیس | سپیکٹرم |
|---|---|---|---|---|---|
| LCI 1220 | 6.7 | 10 جیج |
