 |
MV-DP4180-01P
Hikrobot
Gigabit Ethernet (1000Mbit/s), ühildub kiire Ethernetiga (100Mbit/s)
2,5 kHz (maksimaalne mõõtmisvahemik), kuni 49 kHz (ROI režiim)
| Kogus: | |
|---|---|
Funktsionaalsed omadused
Varustatud kõrge kaadrisageduse, kõrge eraldusvõime ja suurerakulise pildianduritega, realiseerib kiire pildi omandamise, säilitades samal ajal suurepärase pildikvaliteedi ja rahuldades peene tuvastamise vajadusi.
Sisseehitatud ülitõhusa FPGA töötlemisüksus, pildi skaneerimise kiirus kuni 49 kHz, parandades oluliselt üldist töötlemise efektiivsust ja tuleks hõlpsalt hakkama kiirete tootmisliinide rakendustega.
See võtab vastu suure ava kohandatud läätse ja üliohtliku laseriga optilise süsteemi, et tagada valgustuse järjepidevus ja pildi selgus ning see võib töötada keerukate stsenaariumide korral stabiilselt.
Täiustatud alampixeli töötlemise tehnoloogiaga varustatud mõõtmise täpsus võib jõuda submikroni tasemeni ja sobib tööstusliku ülevaatuse ülesanneteks, millel on äärmiselt kõrge täpsusvajadus.
Toetab mitmeid kokkupuutestrateegiaid erinevate materjalide ja keerukate valgustuskeskkondade tõhusaks käsitlemiseks ning süsteemi tugevuse ja keskkonnaalade kohanemisvõime parandamiseks.
Kujutise mitme kaadri sulandumise kaudu on kontuuri äratundmisvõimalus täiustatud, et saada täielikum ja täpsem kolmemõõtmeline struktuuriteave.
Sisseehitatud mitu filtreerimisalgoritmi valikud, et parandada punktpilve andmete stabiilsust ja usaldusväärsust ning optimeerida tausta töötlemise efekti.
Äärmiselt integreeritud kompaktsel struktuuril on paindlik paigaldamine ja mugav silumine, mis lühendab oluliselt seadmete juurutamistsüklit ja parandab rakenduse tõhusust.
Välised mõõtmed
Funktsionaalsed omadused
Varustatud kõrge kaadrisageduse, kõrge eraldusvõime ja suurerakulise pildianduritega, realiseerib kiire pildi omandamise, säilitades samal ajal suurepärase pildikvaliteedi ja rahuldades peene tuvastamise vajadusi.
Sisseehitatud ülitõhusa FPGA töötlemisüksus, pildi skaneerimise kiirus kuni 49 kHz, parandades oluliselt üldist töötlemise efektiivsust ja tuleks hõlpsalt hakkama kiirete tootmisliinide rakendustega.
See võtab vastu suure ava kohandatud läätse ja üliohtliku laseriga optilise süsteemi, et tagada valgustuse järjepidevus ja pildi selgus ning see võib töötada keerukate stsenaariumide korral stabiilselt.
Täiustatud alampixeli töötlemise tehnoloogiaga varustatud mõõtmise täpsus võib jõuda submikroni tasemeni ja sobib tööstusliku ülevaatuse ülesanneteks, millel on äärmiselt kõrge täpsusvajadus.
Toetab mitmeid kokkupuutestrateegiaid erinevate materjalide ja keerukate valgustuskeskkondade tõhusaks käsitlemiseks ning süsteemi tugevuse ja keskkonnaalade kohanemisvõime parandamiseks.
Kujutise mitme kaadri sulandumise kaudu on kontuuri äratundmisvõimalus täiustatud, et saada täielikum ja täpsem kolmemõõtmeline struktuuriteave.
Sisseehitatud mitu filtreerimisalgoritmi valikud, et parandada punktpilve andmete stabiilsust ja usaldusväärsust ning optimeerida tausta töötlemise efekti.
Äärmiselt integreeritud kompaktsel struktuuril on paindlik paigaldamine ja mugav silumine, mis lühendab oluliselt seadmete juurutamistsüklit ja parandab rakenduse tõhusust.
Välised mõõtmed
