MV-DP4020-01P

คุณสมบัติ

มาพร้อมกับอัตราเฟรมสูง ความละเอียดสูง และเซ็นเซอร์ภาพพิกเซลขนาดใหญ่ โดยคำนึงถึงความคมชัดของภาพและประสิทธิภาพการรับข้อมูลความเร็วสูง เพื่อตอบสนองความต้องการของการตรวจจับที่มีความเร็วสูงและมีความแม่นยำสูง

โมดูลประมวลผล FPGA ในตัวช่วยปรับปรุงประสิทธิภาพการประมวลผลข้อมูลอย่างมาก และอัตราการสแกนสูงถึง 49 KHz ซึ่งรองรับแอปพลิเคชันตรวจสอบสายการผลิตที่รวดเร็ว

มาพร้อมกับเลนส์ที่ปรับแต่งรูรับแสงขนาดใหญ่และโซลูชันการฉายภาพเลเซอร์ที่มีรูปแบบสม่ำเสมอเป็นพิเศษเพื่อให้แน่ใจว่าความสว่างของภาพมีความสม่ำเสมอและความแม่นยำของแสงที่มีโครงสร้าง ทำให้สามารถปรับให้เข้ากับฉากที่ซับซ้อนได้หลากหลาย

เมื่อรวมกับอัลกอริธึมพิกเซลย่อยขั้นสูง ทำให้ได้รับความแม่นยำในการวัดระดับซับไมครอน และเหมาะสำหรับการผลิตที่มีความแม่นยำและงานตรวจสอบโครงสร้างจุลภาค

รองรับโหมดการรับแสงหลายโหมดเพื่อปรับปรุงความทนทานและความสามารถในการปรับตัวของระบบภายใต้สภาพแสงและวัสดุที่แตกต่างกัน

ปรับปรุงความสามารถในการฟื้นฟูรูปร่างผ่านอัลกอริธึมฟิวชั่นหลายเฟรม ปรับปรุงความสมบูรณ์ของพอยต์คลาวด์และความคมชัดของขอบได้อย่างมีประสิทธิภาพ

มีอัลกอริธึมการกรองเสริมที่หลากหลายเพื่อส่งออกข้อมูลคุณภาพสูงอย่างเสถียร และลดข้อผิดพลาดและการรบกวนทางเสียง

อุปกรณ์ดังกล่าวมีการผสานรวมในระดับสูง โครงสร้างกะทัดรัด ติดตั้งง่าย รองรับการใช้งานอย่างรวดเร็วและการแก้ไขข้อบกพร่องอย่างมีประสิทธิภาพ และลดระยะเวลารอบการแนะนำให้สั้นลง

ขนาดโดยรวม