MV-DP4020-01P

Ominaisuudet

Varustettu korkealla kuvanopeudella, korkealla resoluutiolla ja suurella pikselin kuvakennolla, se ottaa huomioon kuvan selkeyden ja nopean kuvaussuorituskyvyn vastatakseen nopean ja erittäin tarkan tunnistuksen tarpeisiin.

Sisäänrakennettu FPGA-käsittelymoduuli parantaa huomattavasti tietojenkäsittelyn tehokkuutta, ja skannausnopeus voi olla jopa 49 KHz, mikä tukee nopeita tuotantolinjan tarkastussovelluksia.

Varustettu suurella aukolla räätälöidyllä linssillä ja erittäin yhtenäisellä laserprojektioratkaisulla, joka varmistaa kuvan kirkkauden yhdenmukaisuuden ja strukturoidun valon tarkkuuden, joten se voi mukautua moniin monimutkaisiin kohtauksiin.

Yhdessä kehittyneiden alipikselialgoritmien kanssa se saavuttaa submikronin tason mittaustarkkuuden ja soveltuu tarkkuusvalmistukseen ja mikrorakenteen tarkastustehtäviin.

Tukee useita valotustiloja parantaakseen järjestelmän kestävyyttä ja mukautumiskykyä erilaisissa valaistus- ja materiaaliolosuhteissa.

Parannetut ääriviivojen palautusominaisuudet useiden kehysten fuusioalgoritmien avulla parantavat tehokkaasti pistepilven eheyttä ja reunojen selkeyttä.

Tarjoaa useita valinnaisia ​​suodatusalgoritmeja korkealaatuisten tietojen vakaaseen tulostamiseen ja virheiden ja häiriöhäiriöiden vähentämiseen.

Laite on erittäin integroitu, kompakti rakenne, helppo asentaa, tukee nopeaa käyttöönottoa ja tehokasta virheenkorjausta ja lyhentää käyttöönottojaksoa.

Kokonaismitat