 |
MV-DP4020-01P
Hikrobotti
Gigabit Ethernet (1000mbit/s), yhteensopiva Fast Ethernetin kanssa (100mbit/s)
2,5 kHz (enimmäismittausalue), enintään 49 kHz (ROI -tila)
| määrä: | |
|---|---|
Toiminnalliset ominaisuudet
Varustettu korkea kehysnopeus, korkearesoluutio ja suurten solujen kuvaanturit, ottaen huomioon kuvantamisen selkeys ja nopea hankinta suorituskyky vastaamaan nopean ja tarkkaan havaitsemisen tarpeita.
Sisäänrakennettu FPGA-prosessointimoduuli parantaa huomattavasti tietojenkäsittelytehokkuutta, ja skannausnopeus on jopa 49 kHz ja tukee nopeaa tuotantolinjan tarkastussovelluksia.
Varustettu suurella aukon räätälöityllä linssillä ja erittäin tasaisella laserprojektioliuoksella kuvantamisen kirkkauden ja rakenteellisen valon tarkkuuden konsistenssin varmistamiseksi ja sopeutumisen monimutkaisiin skenaarioihin.
Yhdistettynä edistyneisiin alapikselin algoritmeihin, se saavuttaa submikronitason mittaustarkkuuden, joka soveltuu tarkkuuden valmistus- ja mikrorakenteen havaitsemistehtäviin.
Tukee useita valotusmuotoja järjestelmän kestävyyden ja sopeutumiskyvyn parantamiseksi erilaisissa valaistus- ja aineellisissa olosuhteissa.
Muotojen palauttamiskyky parannetaan monikehyksen fuusioalgoritmin avulla, mikä parantaa tehokkaasti pisteen pilven eheyttä ja reunan selkeyttä.
Tarjoaa erilaisia valinnaisia suodatusalgoritmeja stabiilisti korkealaatuisten tietojen tuottamiseksi ja virheen ja kohinan häiriöiden vähentämiseksi.
Laitteissa on korkea integraatio, kompakti rakenne, kätevä asennus, tukee nopeaa käyttöönottoa ja tehokasta virheenkorjausta ja lyhentää tuontisykliä.
Ulkoiset mitat
Toiminnalliset ominaisuudet
Varustettu korkea kehysnopeus, korkearesoluutio ja suurten solujen kuvaanturit, ottaen huomioon kuvantamisen selkeys ja nopea hankinta suorituskyky vastaamaan nopean ja tarkkaan havaitsemisen tarpeita.
Sisäänrakennettu FPGA-prosessointimoduuli parantaa huomattavasti tietojenkäsittelytehokkuutta, ja skannausnopeus on jopa 49 kHz ja tukee nopeaa tuotantolinjan tarkastussovelluksia.
Varustettu suurella aukon räätälöityllä linssillä ja erittäin tasaisella laserprojektioliuoksella kuvantamisen kirkkauden ja rakenteellisen valon tarkkuuden konsistenssin varmistamiseksi ja sopeutumisen monimutkaisiin skenaarioihin.
Yhdistettynä edistyneisiin alapikselin algoritmeihin, se saavuttaa submikronitason mittaustarkkuuden, joka soveltuu tarkkuuden valmistus- ja mikrorakenteen havaitsemistehtäviin.
Tukee useita valotusmuotoja järjestelmän kestävyyden ja sopeutumiskyvyn parantamiseksi erilaisissa valaistus- ja aineellisissa olosuhteissa.
Muotojen palauttamiskyky parannetaan monikehyksen fuusioalgoritmin avulla, mikä parantaa tehokkaasti pisteen pilven eheyttä ja reunan selkeyttä.
Tarjoaa erilaisia valinnaisia suodatusalgoritmeja stabiilisti korkealaatuisten tietojen tuottamiseksi ja virheen ja kohinan häiriöiden vähentämiseksi.
Laitteissa on korkea integraatio, kompakti rakenne, kätevä asennus, tukee nopeaa käyttöönottoa ja tehokasta virheenkorjausta ja lyhentää tuontisykliä.
Ulkoiset mitat
