 |
MV-DP4020-01P
Hikrobot
Gigabit Ethernet (1000mbit/s), kompatibel med rask Ethernet (100mbit/s)
2,5 kHz (maksimal måleområde), opptil 49 kHz (ROI -modus)
| mengde: | |
|---|---|
Funksjonelle funksjoner
Utstyrt med høy bildefrekvens, høyoppløselig og store cellesensorer, med hensyn til avbildning av klarhet og høyhastighets anskaffelsesytelse, og imøtekommer behovene for høyhastighets og høy presisjonsdeteksjon.
Den innebygde FPGA-prosesseringsmodulen forbedrer databehandlingseffektiviteten, med en skannehastighet opp til 49 kHz, og støtter hurtigproduksjonslinjeinspeksjonsapplikasjoner.
Utstyrt med en stor tilpasset objektiv og en ultra-ensartet laserprojeksjonsløsning for å sikre konsistensen av avbildningens lysstyrke og strukturell lysnøyaktighet, og tilpasse seg en rekke komplekse scenarier.
Kombinert med avanserte subpixel-algoritmer oppnår den målens nøyaktighet på submikronnivå, som er egnet for presisjonsproduksjon og mikrostrukturdeteksjonsoppgaver.
Støtter flere eksponeringsmodus for å forbedre systemets robusthet og tilpasningsevne under forskjellige belysning og materielle forhold.
Konturrestaureringsevnen forbedres gjennom fusjonsalgoritme med flere rammer, og forbedrer effektivt punktskyintegritet og kantklarhet.
Tilbyr en rekke valgfrie filtreringsalgoritmer for å stabile data av høy kvalitet og redusere feil- og støyforstyrrelser.
Utstyret har høy integrasjon, kompakt struktur, praktisk installasjon, støtter rask distribusjon og effektiv feilsøking, og forkorter importsyklusen.
Ytre dimensjoner
Funksjonelle funksjoner
Utstyrt med høy bildefrekvens, høyoppløselig og store cellesensorer, med hensyn til avbildning av klarhet og høyhastighets anskaffelsesytelse, og imøtekommer behovene for høyhastighets og høy presisjonsdeteksjon.
Den innebygde FPGA-prosesseringsmodulen forbedrer databehandlingseffektiviteten, med en skannehastighet opp til 49 kHz, og støtter hurtigproduksjonslinjeinspeksjonsapplikasjoner.
Utstyrt med en stor tilpasset objektiv og en ultra-ensartet laserprojeksjonsløsning for å sikre konsistensen av avbildningens lysstyrke og strukturell lysnøyaktighet, og tilpasse seg en rekke komplekse scenarier.
Kombinert med avanserte subpixel-algoritmer oppnår den målens nøyaktighet på submikronnivå, som er egnet for presisjonsproduksjon og mikrostrukturdeteksjonsoppgaver.
Støtter flere eksponeringsmodus for å forbedre systemets robusthet og tilpasningsevne under forskjellige belysning og materielle forhold.
Konturrestaureringsevnen forbedres gjennom fusjonsalgoritme med flere rammer, og forbedrer effektivt punktskyintegritet og kantklarhet.
Tilbyr en rekke valgfrie filtreringsalgoritmer for å stabile data av høy kvalitet og redusere feil- og støyforstyrrelser.
Utstyret har høy integrasjon, kompakt struktur, praktisk installasjon, støtter rask distribusjon og effektiv feilsøking, og forkorter importsyklusen.
Ytre dimensjoner
