|
MV-DP4020-01P
Hikrobot
4080
22,6 mm
5,2 mm
13,5 mm@proximal end14 mm@referentna udaljenost14,5 mm@Far End
0,15 µm
Gigabit Ethernet (1000mbit/s), kompatibilan s brzim Ethernet (100mbit/s)
2,5 kHz (maksimalni raspon mjerenja), do 49 kHz (ROI način rada)
| količina: | |
|---|---|
Funkcionalne značajke
Opremljeni visokom brzinom kadrova, visokom razlučivošću i senzorima velikih stanica, uzimajući u obzir jasnoću snimanja i performanse velike brzine, zadovoljavajući potrebe otkrivanja velike brzine i visoke preciznosti.
Ugrađeni FPGA modul za obradu uvelike poboljšava učinkovitost obrade podataka, s brzinom skeniranja do 49 kHz, i podržava aplikacije za brzu proizvodnu inspekciju.
Opremljen velikim otvorom prilagođenim lećama i ultra-uniformnom laserskom projekcijskom otopinom kako bi se osigurala konzistencija slikovnog svjetline i strukturne točnosti svjetlosti, te prilagoditi raznim složenim scenarijima.
U kombinaciji s naprednim algoritmima subpiksela, postiže točnost mjerenja na razini submikrona, što je pogodno za precizne zadatke proizvodnje i otkrivanja mikrostrukture.
Podržava više načina izloženosti za poboljšanje robusnosti i prilagodljivosti sustava u različitim uvjetima osvjetljenja i materijala.
Mogućnost obnove konture poboljšana je algoritmom fuzije s više okvira, učinkovito poboljšavajući integritet oblaka točke i jasnoću ruba.
Pruža različite opcionalne algoritme za filtriranje za stabilno iznošenje visokokvalitetnih podataka i smanjenje smetnji pogrešaka i buke.
Oprema ima visoku integraciju, kompaktnu strukturu, prikladnu instalaciju, podržava brzo implementaciju i učinkovito uklanjanje pogrešaka i skraćuje ciklus uvoza.
Vanjske dimenzije
Funkcionalne značajke
Opremljeni visokom brzinom kadrova, visokom razlučivošću i senzorima velikih stanica, uzimajući u obzir jasnoću snimanja i performanse velike brzine, zadovoljavajući potrebe otkrivanja velike brzine i visoke preciznosti.
Ugrađeni FPGA modul za obradu uvelike poboljšava učinkovitost obrade podataka, s brzinom skeniranja do 49 kHz, i podržava aplikacije za brzu proizvodnu inspekciju.
Opremljen velikim otvorom prilagođenim lećama i ultra-uniformnom laserskom projekcijskom otopinom kako bi se osigurala konzistencija slikovnog svjetline i strukturne točnosti svjetlosti, te prilagoditi raznim složenim scenarijima.
U kombinaciji s naprednim algoritmima subpiksela, postiže točnost mjerenja na razini submikrona, što je pogodno za precizne zadatke proizvodnje i otkrivanja mikrostrukture.
Podržava više načina izloženosti za poboljšanje robusnosti i prilagodljivosti sustava u različitim uvjetima osvjetljenja i materijala.
Mogućnost obnove konture poboljšana je algoritmom fuzije s više okvira, učinkovito poboljšavajući integritet oblaka točke i jasnoću ruba.
Pruža različite opcionalne algoritme za filtriranje za stabilno iznošenje visokokvalitetnih podataka i smanjenje smetnji pogrešaka i buke.
Oprema ima visoku integraciju, kompaktnu strukturu, prikladnu instalaciju, podržava brzo implementaciju i učinkovito uklanjanje pogrešaka i skraćuje ciklus uvoza.
Vanjske dimenzije
