MV-DL2126-04P-R

ویژگی ها

1. فناوری اندازه گیری مواد پیچیده
از الگوریتم دینامیکی گسترده نسل سوم استفاده می کند، که مشکل اندازه گیری مواد جذب کننده نور تاریک/فلز بسیار بازتابنده را از بین می برد و محدوده سازگاری بازتاب سطح به 0.5٪ -98٪ می رسد.

2. الگوریتم سرکوب تاری حرکت در درجه صنعتی جبران حرکت با سرعت بالا
همچنان می تواند از خطای دقت اندازه گیری <0.1% در سرعت خط 3 متر بر ثانیه اطمینان حاصل کند که نیازهای بازرسی خط تولید با سرعت بالا را برآورده می کند.

3.
فناوری موقعیت‌یابی لبه‌های زیرپیکسلی ثبت اختراع تحلیلی سطح زیر میکرون، همراه با الگوریتم درونیابی تطبیقی، به دقت مطلق سطح 5 میلی‌متری (فاصله اندازه‌گیری @1 متر) دست می‌یابد.

4. نوآوری در سیستم نوری
• منبع لیزر پرقدرت 200 وات، دامنه دینامیکی افزایش یافته تا 120 دسی بل
• فیلتر باند باریک پهنای باند 10 نانومتری، نسبت سرکوب نور محیط > 60 دسی بل

5. کنترل همگام سازی هوشمند،
راه اندازی همگام سازی نوردهی در سطح میکرو ثانیه، لرزش پایه زمانی <10 ثانیه، اطمینان از تغییر دما <0.01٪ برای 8 ساعت کار مداوم.

6. خروجی داده چند بعدی

داده های ابعادی سه بعدی (L/W/H±0.05%)

چگالی ابر نقطه ای 20000 نقطه در ثانیه

دقت موقعیت یابی مختصات فضایی ± 0.1 میلی متر

ابعاد کلی