MV-DL2126-04P-R

Functies

1. De complexe materiaalmeettechnologie
maakt gebruik van het brede dynamische algoritme van de derde generatie, dat op doorbraak het meetprobleem van sterk reflecterende metalen / donkerlichtabsorberende materialen oplost, en het aanpassingsvermogen van de oppervlaktereflectie bereikt 0,5% -98%.

2. Hoge snelheid bewegingscompensatie
Het industriële algoritme voor het onderdrukken van bewegingsonscherpte kan nog steeds een meetnauwkeurigheidsfout <0,1% garanderen bij een lijnsnelheid van 3 m/s, wat voldoet aan de behoeften van hogesnelheidsproductielijninspectie.

3. Analytische op submicronniveau , gecombineerd met adaptief interpolatiealgoritme, bereikt een absolute nauwkeurigheid van 5 mm (@1m meetafstand).
gepatenteerde sub-pixel randpositioneringstechnologie

4. Innovatie optisch systeem
• Laserbron met hoog vermogen van 200 W, dynamisch bereik uitgebreid tot 120 dB
• Smalbandfilter met 10 nm bandbreedte, onderdrukking van omgevingslicht > 60 dB

5. Intelligente synchronisatiecontrole
, activering van blootstellingssynchronisatie op μs-niveau, tijdbasisjitter <10ns, waardoor temperatuurafwijking <0,01% wordt gegarandeerd gedurende 8 uur continu gebruik.

6. Multidimensionale gegevensuitvoer

Driedimensionale gegevens (L/B/H±0,05%)

Puntenwolkdichtheid > 20.000 punten/seconde

Nauwkeurigheid positionering ruimtelijke coördinaten ±0,1 mm

Totale afmetingen