|
MV-DL2126-04P-R
Hikrobot
260 mm
470 mm
700 mm
2000 mm
GIGE
| hoeveelheid: | |
|---|---|
Funksionele kenmerke
1. Die komplekse materiaalmetingstegnologie
neem die derde generasie wye dinamiese algoritme aan om die meetprobleme van hoogs reflektiewe metale/donker ligabsorberende materiale op te los met 'n oppervlak-reflektiwiteitsaanpassingsbereik van 0,5%-98%.
2. Die hoë-snelheidskompensasie-
industriële graadbeweging Fuzzy onderdrukking-algoritme kan steeds verseker dat die meet akkuraatheidsfout <0,1% is teen 'n lineêre snelheid van 3M/s, wat aan die behoeftes van hoë-snelheidsproduksielyninspeksie voldoen.
3. Submikron-vlak analitiese
gepatenteerde subpixel-randposisioneringstegnologie, gekombineer met aanpasbare interpolasie-algoritme, behaal 5 mm-vlak absolute akkuraatheid (@1M meetafstand).
4. Optiese stelselinnovasie
• 200W hoë-krag laserbron, dinamiese omvang uitgebrei na 120dB
• 10nm bandwydte smalbandfilter, verhouding met ligte ligte onderdrukking> 60dB
5. Intelligente sinchronisasiebeheer Kontroles
μS-vlak blootstelling Synchronisasie-sneller, tydbasis-jitter is <10ns, wat verseker dat temperatuurdrywing <0,01% is vir 8 uur aaneenlopend werk.
6. Multidimensionele data -uitset
Drie-dimensionele grootte data (L/W/H ± 0,05%)
Puntwolkdigtheid> 20000 punte/tweede
Ruimtelike koördinaatposisionering akkuraatheid ± 0,1 mm
Eksterne afmetings
Funksionele kenmerke
1. Die komplekse materiaalmetingstegnologie
neem die derde generasie wye dinamiese algoritme aan om die meetprobleme van hoogs reflektiewe metale/donker ligabsorberende materiale op te los met 'n oppervlak-reflektiwiteitsaanpassingsbereik van 0,5%-98%.
2. Die hoë-snelheidskompensasie-
industriële graadbeweging Fuzzy onderdrukking-algoritme kan steeds verseker dat die meet akkuraatheidsfout <0,1% is teen 'n lineêre snelheid van 3M/s, wat aan die behoeftes van hoë-snelheidsproduksielyninspeksie voldoen.
3. Submikron-vlak analitiese
gepatenteerde subpixel-randposisioneringstegnologie, gekombineer met aanpasbare interpolasie-algoritme, behaal 5 mm-vlak absolute akkuraatheid (@1M meetafstand).
4. Optiese stelselinnovasie
• 200W hoë-krag laserbron, dinamiese omvang uitgebrei na 120dB
• 10nm bandwydte smalbandfilter, verhouding met ligte ligte onderdrukking> 60dB
5. Intelligente sinchronisasiebeheer Kontroles
μS-vlak blootstelling Synchronisasie-sneller, tydbasis-jitter is <10ns, wat verseker dat temperatuurdrywing <0,01% is vir 8 uur aaneenlopend werk.
6. Multidimensionele data -uitset
Drie-dimensionele grootte data (L/W/H ± 0,05%)
Puntwolkdigtheid> 20000 punte/tweede
Ruimtelike koördinaatposisionering akkuraatheid ± 0,1 mm
Eksterne afmetings
