MV-DL2126-04P-R

Merkmale

1. Die komplexe Materialmesstechnologie
übernimmt den breiten dynamischen Algorithmus der dritten Generation, der das Messproblem hochreflektierender Metalle/dunkles Licht absorbierender Materialien bahnbrechend löst und den Anpassungsbereich des Oberflächenreflexionsvermögens von 0,5 % bis 98 % erreicht.

2. Der Hochgeschwindigkeits-Bewegungskompensationsalgorithmus
zur Unterdrückung von Bewegungsunschärfe in Industriequalität kann weiterhin einen Messgenauigkeitsfehler von <0,1 % bei einer Liniengeschwindigkeit von 3 m/s gewährleisten und erfüllt damit die Anforderungen der Hochgeschwindigkeits-Produktionslinieninspektion.

3. Die analytische im Submikrometerbereich erreicht in Kombination mit dem adaptiven Interpolationsalgorithmus eine absolute Genauigkeit von 5 mm (bei 1 m Messentfernung).
, patentierte Subpixel-Kantenpositionierungstechnologie

4. Innovation des optischen Systems
• 200-W-Hochleistungslaserquelle, erweiterter Dynamikbereich auf 120 dB
• Schmalbandfilter mit 10 nm Bandbreite, Umgebungslichtunterdrückungsverhältnis > 60 dB

5. Intelligente Synchronisationssteuerung,
Auslösung der Belichtungssynchronisation auf μs-Ebene, Zeitbasis-Jitter <10 ns, wodurch eine Temperaturdrift <0,01 % für 8 Stunden Dauerbetrieb gewährleistet wird.

6. Mehrdimensionale Datenausgabe

Dreidimensionale Daten (L/B/H ±0,05 %)

Punktwolkendichte > 20.000 Punkte/Sekunde

Genauigkeit der räumlichen Koordinatenpositionierung ±0,1 mm

Gesamtabmessungen