|
MV-DL2126-04p-R
Hikrobot
260 mm
470 mm
700 mm
2000 mm
Auftritt
| Menge: | |
|---|---|
Funktionale Merkmale
1. Die komplexe Materialmessungstechnologie
verwendet den breiten dynamischen Algorithmus der dritten Generation, um die Messungsprobleme hochreflektierender Metalle/dunkle hellabsorbierende Materialien mit einem Anpassungsbereich von Oberflächenreflexionsvermögen von 0,5%-98%zu lösen.
2. Der Motion-Fuzzy-Suppression-Algorithmus für Bewegungskompensation der Hochgeschwindigkeits
-Kompensation kann weiterhin mit einer linearen Geschwindigkeit von 3 m/s den Messgenauigkeitsfehler <0,1% sicherstellen und den Anforderungen der Hochgeschwindigkeits-Produktionslinieninspektion entsprechen.
3.. Die analytische
patentische Subpixel-Kantenpositionierungstechnologie auf Submikronebene, kombiniert mit dem adaptiven Interpolationsalgorithmus, erreicht die absolute Genauigkeit von 5 mm Level (@1M-Messentfernung).
4. OPTISCHE SYSTEM-Innovation
• 200-W-Hochleistungslaserquelle, Dynamikbereich auf 120 dB erweitert
• 10 nm Bandbreitenschmalbandfilter, Umgebungslicht-Unterdrückungsverhältnis> 60 dB
5. Intelligente Synchronisationskontrolle
μs Expositionssynchronisations-Auslöser auf μS-Ebene, Zeitbasis-Jitter beträgt <10 ns, um sicherzustellen, dass die Temperaturdrift bei 8 Stunden kontinuierlich funktioniert.
6. Mehrdimensionale Datenausgabe
Dreidimensionale Größendaten (l/w/h ± 0,05%)
Punktwolkendichte> 20000 Punkte/Sekunde
Räumungskoordinatenpositionierungsgenauigkeit ± 0,1 mm
Externe Dimensionen
Funktionale Merkmale
1. Die komplexe Materialmessungstechnologie
verwendet den breiten dynamischen Algorithmus der dritten Generation, um die Messungsprobleme hochreflektierender Metalle/dunkle hellabsorbierende Materialien mit einem Anpassungsbereich von Oberflächenreflexionsvermögen von 0,5%-98%zu lösen.
2. Der Motion-Fuzzy-Suppression-Algorithmus für Bewegungskompensation der Hochgeschwindigkeits
-Kompensation kann weiterhin mit einer linearen Geschwindigkeit von 3 m/s den Messgenauigkeitsfehler <0,1% sicherstellen und den Anforderungen der Hochgeschwindigkeits-Produktionslinieninspektion entsprechen.
3.. Die analytische
patentische Subpixel-Kantenpositionierungstechnologie auf Submikronebene, kombiniert mit dem adaptiven Interpolationsalgorithmus, erreicht die absolute Genauigkeit von 5 mm Level (@1M-Messentfernung).
4. OPTISCHE SYSTEM-Innovation
• 200-W-Hochleistungslaserquelle, Dynamikbereich auf 120 dB erweitert
• 10 nm Bandbreitenschmalbandfilter, Umgebungslicht-Unterdrückungsverhältnis> 60 dB
5. Intelligente Synchronisationskontrolle
μs Expositionssynchronisations-Auslöser auf μS-Ebene, Zeitbasis-Jitter beträgt <10 ns, um sicherzustellen, dass die Temperaturdrift bei 8 Stunden kontinuierlich funktioniert.
6. Mehrdimensionale Datenausgabe
Dreidimensionale Größendaten (l/w/h ± 0,05%)
Punktwolkendichte> 20000 Punkte/Sekunde
Räumungskoordinatenpositionierungsgenauigkeit ± 0,1 mm
Externe Dimensionen
