|
MV-DL2126-04P-R
היקרובוט
260 מ'מ
470 מ'מ
700 מ'מ
2000 מ'מ
GIGE
| כַּמוּת: | |
|---|---|
תכונות פונקציונליות
1. טכנולוגיית המדידה החומרית המורכבת
מאמצת את האלגוריתם הדינאמי הרחב של הדור השלישי כדי לפתור את בעיות המדידה של מתכות רפלקטיביות ביותר/חומרים סופגים אור כהים עם טווח הסתגלות משקף פני השטח של 0.5%-98%.
2. פיצוי תנועה מהיר גבוה
אלגוריתם דיכוי מטושטש בתנועה תעשייתית יכול עדיין להבטיח שגיאת דיוק מדידה <0.1% במהירות ליניארית של 3M/s, העונה על הצרכים של בדיקת קו ייצור במהירות גבוהה.
3
.
חדשנות מערכת אופטית
• מקור לייזר בעל עוצמה גבוהה 200 ווא
4.
5. סנכרון סנכרון אינטליגנטי שולט
בהפעלת סנכרון חשיפה ברמת ה- μS, ריצוד בסיס זמן הוא <10ns, מה שמבטיח שסחף הטמפרטורה הוא <0.01% למשך 8 שעות עבודה רציפה.
6. פלט נתונים רב ממדי
נתוני גודל תלת מימדיים (L/W/H ± 0.05%)
צפיפות ענן נקודה> 20000 נקודות/שנייה
דיוק מיקום קואורדינטות מרחבי ± 0.1 מ'מ
מידות חיצוניות
תכונות פונקציונליות
1. טכנולוגיית המדידה החומרית המורכבת
מאמצת את האלגוריתם הדינאמי הרחב של הדור השלישי כדי לפתור את בעיות המדידה של מתכות רפלקטיביות ביותר/חומרים סופגים אור כהים עם טווח הסתגלות משקף פני השטח של 0.5%-98%.
2. פיצוי תנועה מהיר גבוה
אלגוריתם דיכוי מטושטש בתנועה תעשייתית יכול עדיין להבטיח שגיאת דיוק מדידה <0.1% במהירות ליניארית של 3M/s, העונה על הצרכים של בדיקת קו ייצור במהירות גבוהה.
3
.
חדשנות מערכת אופטית
• מקור לייזר בעל עוצמה גבוהה 200 ווא
4.
5. סנכרון סנכרון אינטליגנטי שולט
בהפעלת סנכרון חשיפה ברמת ה- μS, ריצוד בסיס זמן הוא <10ns, מה שמבטיח שסחף הטמפרטורה הוא <0.01% למשך 8 שעות עבודה רציפה.
6. פלט נתונים רב ממדי
נתוני גודל תלת מימדיים (L/W/H ± 0.05%)
צפיפות ענן נקודה> 20000 נקודות/שנייה
דיוק מיקום קואורדינטות מרחבי ± 0.1 מ'מ
מידות חיצוניות
