MV-DL2126-04P-R

תכונות

1. טכנולוגיית מדידת החומרים המורכבת
מאמצת את האלגוריתם הדינמי הרחב של הדור השלישי, אשר פורץ דרך בעיית המדידה של חומרים סופחי אור כהה מתכת מחזירי אור במיוחד, וטווח הסתגלות החזר השטח מגיע ל-0.5%-98%.

2. אלגוריתם דיכוי תנועה במהירות גבוהה לפיצוי
תנועה בדרגה תעשייתית עדיין יכול להבטיח שגיאת דיוק מדידה <0.1% במהירות קו של 3m/s, העונה על הצרכים של בדיקת קו ייצור במהירות גבוהה.

3.
טכנולוגיית מיצוב קצה של תת-פיקסל אנליטית ברמת תת-מיקרון, בשילוב עם אלגוריתם אינטרפולציה אדפטיבית, משיגה דיוק אבסולוטי ברמה של 5 מ'מ (מרחק מדידה @1m).

4. חדשנות מערכת אופטית
• מקור לייזר בעוצמה גבוהה של 200W, טווח דינמי מורחב ל-120dB
• מסנן פס צר ברוחב פס של 10nm, יחס דיכוי אור הסביבה > 60dB

5. בקרת סנכרון חכמה
הפעלת סנכרון חשיפה ברמת μs, ריצוד בסיס זמן <10ns, הבטחת סחיפה של טמפרטורה <0.01% למשך 8 שעות של פעולה רציפה.

6. פלט נתונים רב מימדי

נתונים תלת מימדיים (L/W/H±0.05%)

צפיפות ענן נקודה ＞20000 נקודות/שנייה

דיוק מיקום קואורדינטות מרחביות ±0.1 מ'מ

מידות כוללות