MV-DL2126-04P-R

Funksjoner

1. Den komplekse materialmåleteknologien
tar i bruk tredjegenerasjons brede dynamiske algoritme, som banebrytende løser måleproblemet med svært reflekterende metall-/mørkelysabsorberende materialer, og overflatereflektansens tilpasningsevne når 0,5 %-98 %.

2. Høyhastighets bevegelseskompensasjonsalgoritme
for undertrykkelse av bevegelsesuskarphet i industrikvalitet kan fortsatt sikre målenøyaktighetsfeil <0,1 % ved en linjehastighet på 3m/s, og oppfyller behovene til høyhastighetsinspeksjon av produksjonslinje.

3. Sub-mikron nivå analytisk
patentert sub-piksel kantposisjoneringsteknologi, kombinert med adaptiv interpolasjonsalgoritme, oppnår 5 mm nivå absolutt nøyaktighet (@1m måleavstand).

4. Optisk systeminnovasjon
• 200W høyeffektlaserkilde, dynamisk område utvidet til 120dB
• 10nm smalbåndsfilter med båndbredde, undertrykkingsforhold for omgivelseslys > 60dB

5. Intelligent synkroniseringskontroll
μs-nivå eksponeringssynkronisering utløser, tidsbase-jitter <10ns, sikrer temperaturdrift <0,01 % i 8 timers kontinuerlig drift.

6. Flerdimensjonal datautgang

Tredimensjonale dimensjonale data (L/B/H±0,05 %)

Punktskytetthet＞20000 poeng/sekund

Romlig koordinatposisjoneringsnøyaktighet ±0,1 mm

Totale dimensjoner