एमवी-डीएल2126-04पी-आर

विशेषताएँ

1. जटिल सामग्री माप तकनीक
तीसरी पीढ़ी के व्यापक गतिशील एल्गोरिथ्म को अपनाती है, जो अत्यधिक परावर्तक धातु / अंधेरे प्रकाश-अवशोषित सामग्री की माप समस्या को तोड़ती है, और सतह परावर्तन अनुकूलनशीलता सीमा 0.5% -98% तक पहुंच जाती है।

2. हाई-स्पीड मोशन मुआवजा
औद्योगिक-ग्रेड मोशन ब्लर सप्रेशन एल्गोरिदम अभी भी 3m/s की लाइन स्पीड पर माप सटीकता त्रुटि <0.1% सुनिश्चित कर सकता है, जो हाई-स्पीड उत्पादन लाइन निरीक्षण की जरूरतों को पूरा करता है।

3. उप-माइक्रोन स्तर विश्लेषणात्मक
पेटेंट उप-पिक्सेल एज पोजिशनिंग तकनीक, अनुकूली इंटरपोलेशन एल्गोरिदम के साथ मिलकर, 5 मिमी स्तर की पूर्ण सटीकता (@1 मीटर माप दूरी) प्राप्त करती है।

4. ऑप्टिकल सिस्टम नवाचार
• 200W उच्च-शक्ति लेजर स्रोत, गतिशील रेंज 120dB तक विस्तारित
• 10nm बैंडविड्थ नैरो-बैंड फ़िल्टर, परिवेश प्रकाश दमन अनुपात > 60dB

5. इंटेलिजेंट सिंक्रोनाइजेशन कंट्रोल
μs-लेवल एक्सपोजर सिंक्रोनाइजेशन ट्रिगरिंग, टाइम बेस जिटर <10ns, 8 घंटे के निरंतर संचालन के लिए तापमान बहाव <0.01% सुनिश्चित करता है।

6. बहुआयामी डेटा आउटपुट

त्रि-आयामी आयामी डेटा (L/W/H±0.05%)

बिंदु बादल घनत्व>20000 अंक/सेकंड

स्थानिक समन्वय स्थिति सटीकता ±0.1 मिमी

समग्र आयाम