MV-DL2126-04P-R

Առանձնահատկություններ

1. Բարդ նյութի չափման տեխնոլոգիան
ընդունում է երրորդ սերնդի լայն դինամիկ ալգորիթմը, որը բեկումնային լուծում է բարձր արտացոլող մետաղի/մութ լույս կլանող նյութերի չափման խնդիրը, և մակերեսի արտացոլման հարմարվողականության միջակայքը հասնում է 0,5%-98%:

2. Բարձր արագությամբ շարժման փոխհատուցման
արդյունաբերական աստիճանի շարժման պղտորման ճնշման ալգորիթմը դեռ կարող է ապահովել չափման ճշգրտության սխալ <0,1% 3 մ/վ գծի արագության դեպքում՝ բավարարելով բարձր արագությամբ արտադրական գծի ստուգման կարիքները:

3. Ենթամիկրոն մակարդակի վերլուծական
արտոնագրված ենթապիքսելային եզրերի դիրքավորման տեխնոլոգիան, որը համակցված է հարմարվողական ինտերպոլացիայի ալգորիթմի հետ, հասնում է 5 մմ մակարդակի բացարձակ ճշգրտության (@1 մ չափման հեռավորություն):

4. Օպտիկական համակարգի նորարարություն
• 200 Վտ հզոր լազերային աղբյուր, դինամիկ տիրույթ՝ երկարաձգված մինչև 120 դԲ
• 10 նմ թողունակության նեղ շերտի զտիչ, շրջակա լույսի ճնշման գործակից > 60 դԲ

5. Խելացի համաժամացման կառավարում
μs-մակարդակի ազդեցության համաժամացման գործարկում, ժամանակի բազային ցնցում <10 ns, ապահովելով ջերմաստիճանի շեղում <0,01% 8 ժամ շարունակական աշխատանքի համար:

6. Բազմաչափ տվյալների ելք

Եռաչափ ծավալային տվյալներ (L/W/H±0,05%)

Ամպի կետային խտություն (20000 միավոր/վրկ):

Տարածական կոորդինատների դիրքավորման ճշգրտություն ±0,1 մմ

Ընդհանուր չափերը